
電気電子製品設計解析・評価
 電気機器は静電気などにより破壊や誤作動を起こすことがあります。これらの再現試験や原因解析を行ってきました。
 1979年 デジタル機器メーカー 入社
   1979年 回路設計を担当
    ・薄膜磁気ヘッド用のリード/ライト アンプICの設計(研究部門へ出向)
    ・インダクティブヘッド用のリード回路設計(波形等価回路設計)
    ・インダクティブヘッド用のライト回路設計(Write Compensation回路設計)
   2000年 ヘッド ディスク信頼性設計を担当
    ・再生信号位相観測による磁気ヘッド姿勢の挙動観測
    ・再生信号振幅変動観測による磁気ヘッド浮上量変化量の観測
    ・GMR(Giant Magnesistive)ヘッドの電気的不安定特性の評価
    ・TMR(Tunnel Magnesistive)ヘッドの電気的不安定特性の評価
    ・モータの帯電電圧の評価
    ・磁気ヘッドと磁気ディスク間の放電評価
  2016年 同社退職
電気機器の静電気などによる誤動作の解析
 ・IDEMA(HDD日本協会) ESDコントロール部会(部会長 2013年2月~)
  ・IDEMA ESDコントロール部会   ワークショップ 6回講演
  ・IDEMA ESD教育 外部講師 1回/年
 2009年11月「HDD中の放電メカニズム」(日本磁気学会)
  2010年  5月「Design concepts and verified performances in automotive HDD」(日本磁気学会)
  2010年  7月「ESD tolerance of GMR and TMR heads within Hard Disk Drives」(IEEE)
  2010年  9月「GMR/TMRヘッド不安定性の加速試験方法」(日本磁気学会)
  2011年  2月「Analysis of discharge mechanism in HDD」(IEEE)
  2011年10月「Read performance reliability in TMR Head」(IEEE)
  2014年12月「帯電した車載HDD内絶縁体部品に誘起されたDisk電圧と放電メカニズム」
        (静電気学会)
  2016年  9月「HDDのHeadとDisk間の距離と電圧に依存したHead素子破壊メカニズム」
        (通信学会)
  2016年  9月「HDDのHeadとDisk間で発生する電圧の解析」(通信学会)